Using ridge regression models to estimate grain yield from field spectral data in bread wheat (Triticum Aestivum L.) grown under three water regimes
Javier Hernandez, Gustavo A. Lobos, Iván Matus, Alejandro del Pozo, Paola Silva, Mauricio Galleguillos
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(Scopus)
Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Using ridge regression models to estimate grain yield from field spectral data in bread wheat (Triticum Aestivum L.) grown under three water regimes'. En conjunto forman una huella única.