Uncertainty quantification in diffraction gratings: reliability analysis using a reduced basis method
Rubén Aylwin
, José Pinto
, Gerardo Silva-Oelker
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Uncertainty quantification in diffraction gratings: reliability analysis using a reduced basis method'. En conjunto forman una huella única.