Non-destructive characterization of mechanically processed waste printed circuit boards: X-ray fluorescence spectroscopy and prompt gamma activation analysis

Akira Otsuki, Pedro Pereira Gonçalves, Christian Stieghorst, Zsolt Révay

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Non-destructive characterization of mechanically processed waste printed circuit boards: X-ray fluorescence spectroscopy and prompt gamma activation analysis'. En conjunto forman una huella única.

Keyphrases

Earth and Planetary Sciences

INIS

Physics

Engineering

Material Science