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Noise susceptibility measurements of front-end electronics systems

  • B. Allongue
  • , F. Anghinolfi
  • , G. Blanchot
  • , F. Faccio
  • , C. Fuentes
  • , S. Michelis
  • , S. Orlandi
  • , A. Toro

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

3 Citas (Scopus)

Resumen

The conducted and radiated noise that is emitted by a power supply constrains the noise performance of the frontend electronics system that it powers. The characterization of the noise susceptibility of the front-end electronics allows setting proper requirements for the back-end power supply in order to achieve the expected system performance. A method to measure the common mode current susceptibility using current probes is presented. The compatibility between power supplies and various front-end systems is explored.

Idioma originalInglés
Título de la publicación alojadaProceedings of the Topical Workshop on Electronics for Particle Physics, TWEPP 2008
EditorialCERN
Páginas316-320
Número de páginas5
ISBN (versión impresa)9789290833246
EstadoPublicada - 2008
Publicado de forma externa
EventoTopical Workshop on Electronics for Particle Physics, TWEPP 2008 - Naxos, Grecia
Duración: 15 sept 200819 sept 2008

Serie de la publicación

NombreProceedings of the Topical Workshop on Electronics for Particle Physics, TWEPP 2008

Conferencia

ConferenciaTopical Workshop on Electronics for Particle Physics, TWEPP 2008
País/TerritorioGrecia
CiudadNaxos
Período15/09/0819/09/08

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Noise susceptibility measurements of front-end electronics systems'. En conjunto forman una huella única.

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