A methodology to assess the effects of biofilm roughness on substrate fluxes using image analysis, substrate profiling, and mathematical modelling

J. P. Pavissich, M. Aybar, K. J. Martin, R. Nerenberg

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'A methodology to assess the effects of biofilm roughness on substrate fluxes using image analysis, substrate profiling, and mathematical modelling'. En conjunto forman una huella única.

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INIS

Chemical Engineering

Material Science